獨特的技術、光學滾擺測量以及光纖發(fā)射器
XM-60是一款激光測量系統(tǒng)，只需一次設定即可沿線性軸同時測量6個自由度的誤差。它具有強大的診斷工具，通過一次采集就可以測量軸的所有幾何誤差。
對于執(zhí)行空間補償?shù)挠脩簦琗M-60為他們獲得所需數(shù)據(jù)組提供了一種快速精準的方法。所有測量均為光學測量，可在任意方向執(zhí)行。
概述
輕型發(fā)射器通過光導纖維遠離發(fā)熱的激光源，從而減少測量點處的熱影響。發(fā)射器可直接通過其側面甚至后面安裝到機器上或者上下倒置安裝，非常適用于難以接近的機器區(qū)域。
接收器可進行完全無線操作，由充電電池供電，從而在機器移動中避免電纜拖拽，因為在測量過程中電纜拖拽可能會引起誤差或激光束“斷光”。
XM-60隨附CARTO軟件包，可指導用戶完成測量過程。CARTO包括Capture（數(shù)據(jù)采集）和Explore（數(shù)據(jù)瀏覽）應用，可為XM-60提供無縫數(shù)據(jù)采集和分析。
使用XM-60進行回轉軸測量
主要特性與優(yōu)點：
●快速 — 利用傳統(tǒng)激光技術，一次安裝即可同時測量線性、俯仰、扭擺、滾擺、水平方向和垂直方向直線度等六項誤差。
●簡單 — 設定簡單，其他干涉儀系統(tǒng)使用者很快就能熟練使用。自動檢測軸的正負方向和圖形準直減少了人為誤差。
●可靠 — 直接測量所有誤差，允許用戶在測試過程中查看結果。
●強大 — 獨特的光學滾擺測量系統(tǒng)能夠在任一方向執(zhí)行滾擺測量。
回轉軸測量
CARTO現(xiàn)在可以處理使用XR20-W無線型回轉軸校準裝置通過回轉軸測試采集的數(shù)據(jù)。首次實現(xiàn)使用XR20-W和XM-60對回轉軸進行校準，從而將五軸機床的校準時間從若干天縮短至半天。
“基于目標模式”和“自由運行模式”
XM-60系統(tǒng)的設計非常靈活，可滿足用戶的應用需求。例如，“基于目標模式”專用于補償機床誤差并根據(jù)國際標準生成性能報告。
CARTO 2.1版新增“自由運行模式”，允許用戶在無需定義目標位置甚至目標數(shù)量的情況下，立即采集數(shù)據(jù)。該軟件顯示相對于直線位置的直線度（水平和垂直）、俯仰、扭擺和滾擺誤差。
觸發(fā)方式包括：
●手動（使用鍵盤按鍵）
●自動（基于位置穩(wěn)定性）
●持續(xù)（按用戶定義的步長在連續(xù)運動中采集）
具備UCC功能的坐標測量機 (CMM)
XM-600多光束激光干涉儀新增與雷尼紹UCC控制器直接通信的功能。利用為XM-60多光束激光干涉儀開發(fā)的技術，XM-600可以在一次測量中同時測量6個自由度，輕松為坐標測量機的每個線性軸生成精確的誤差圖。
XM-600與XM-60一樣兼容CARTO，因此它為所有既使用機床又使用坐標測量機的制造工廠提供了理想的校準解決方案。
可溯源精度
每一臺XM-60多光束校準裝置的性能均可溯源至國際標準，而且在發(fā)貨前已經(jīng)過認證。這可以讓客戶確信他們的系統(tǒng)將在精度要求高的場合一如既往地提供高精度測量。
由雷尼紹設計
雷尼紹制造的激光測量系統(tǒng)性能卓越、運行可靠。鋁制基體結構輕巧而堅固，設計為最小封裝尺寸，以適合安裝在機器上。激光器采用專門為RLE激光尺開發(fā)的技術研制，RLE已面世十余年，可用于半導體行業(yè)要求最為嚴苛的應用。
靈活性
XM-60發(fā)射器帶有集成的可開關磁性安裝座，允許快速吸附在機器上？膳c90度彎板配合，進行垂直軸準直。提供可選夾具組件，以滿足多種安裝要求。