日立X-Strata920X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

日立X-Strata920使用X射線熒光(XRF)進(jìn)行的鍍層厚度測(cè)量是經(jīng)過(guò)證明的快速的無(wú)損分析技術(shù)，X-Strata920設(shè)計(jì)為面向電子產(chǎn)品和金屬表面 處理，測(cè)量單層和多鍍層(包括合金層)，應(yīng)用專家對(duì) X-Strata920 進(jìn)行了進(jìn)一步升級(jí)， 確保獲得可靠、可重復(fù)結(jié)果，滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括 PCB 表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面 處理、耐磨損處理、耐高溫處理等。

X-Strata920X這一出色的工具可確保樣品符合規(guī)格，同時(shí)通過(guò)避免過(guò)度電鍍和返工來(lái)降低成本。操作員只需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標(biāo)下方，使用激光焦點(diǎn)對(duì)齊，即可開(kāi)始測(cè)量。結(jié)果在幾秒內(nèi)即可顯示出來(lái)，然后操作員可快速執(zhí)行下一個(gè)任務(wù)。得益于通過(guò)可追溯標(biāo)準(zhǔn)打造的優(yōu)化校準(zhǔn)方式，您將對(duì)結(jié)果的準(zhǔn)確性充滿信心。日本日立提供多種鍍層厚度解決方案EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1400VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、FT160、FT160s、X-Strata920）

使用X-Strata920可遵從各種行業(yè)規(guī)范，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。

日立FT160、FT160s、FT160L射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x，日立主營(yíng)EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1400VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、FT160、FT160s、X-Strata92，其中FT160系列產(chǎn)品,搭載了性能X射線管，實(shí)現(xiàn)了高精度的測(cè)定。FT110A極微小準(zhǔn)直管和可變焦距光學(xué)系統(tǒng)的組合，實(shí)現(xiàn)了對(duì)極微小部分的測(cè)定。對(duì)有段差的樣品也適用。

1. 高速測(cè)量：通過(guò)X射線檢測(cè)機(jī)的改良，對(duì)于極具代表性的Au、Pd、Ni、Cu（金、鈀、鎳、銅）多鍍層測(cè)量，相比以前機(jī)型，效率提高了2倍以上。

2. 對(duì)應(yīng)超小型的芯片零部件的厚度測(cè)量（FT160s：FT160s通過(guò)新時(shí)開(kāi)發(fā)的聚光導(dǎo)管，可以測(cè)量超小型芯片零部件（電容、電阻等）的電極部的鍍層厚度測(cè)量。

3. 兼顧安全性和簡(jiǎn)便性：采用防止X射線泄露的密集型框架和大開(kāi)口且可以方便開(kāi)啟和關(guān)閉的樣品門，兼顧安全性和簡(jiǎn)便性。「FT160s」可以對(duì)應(yīng)600×600mm的大型線路板。

X射線熒光鍍層厚度儀FT160、FT160s、X-Strata92是采用聚光X射線的聚光導(dǎo)管，可對(duì)微小部的鍍層厚度進(jìn)行高速測(cè)量的高性能儀器。通過(guò)X射線檢測(cè)儀器的改良，在線路板和連接器等使用的Au、Pd、Ni、Cu（金、鈀、鎳、銅）多鍍層檢測(cè)中，其測(cè)量速度與本公司以往機(jī)型（FT160，以下相同）相比，提高了2倍以上。在「FT160s」里通過(guò)新開(kāi)發(fā)的聚光導(dǎo)管也可以測(cè)量超小型芯片零部件的端子鍍層厚度。而且跟以往機(jī)型相同，為操作員的安全和安心考慮，采用X射線泄露的可能性極小的密集型框架。新設(shè)計(jì)的樣品室門采用大開(kāi)口，同時(shí)保證了開(kāi)啟和關(guān)閉的便捷性。并且通過(guò)大型觀察窗口，可以方便地取放和定位樣品。另外，操作軟件通過(guò)圖標(biāo)和便捷畫面在提高了操作性的同時(shí)，可通過(guò)數(shù)據(jù)自動(dòng)保存功能減輕操作員的業(yè)務(wù)。通過(guò)這些改進(jìn)，「FT160s系列」實(shí)現(xiàn)了高精度迅速的鍍層厚度測(cè)量，為測(cè)量工作的效率化和成本削減做出了貢獻(xiàn)。