一.概述: 物位測量的儀表在選型時,與壓力或流量測量等儀表有很大不同。這是因為物位測量的現(xiàn)場情況千差萬別,而生產(chǎn)商又很難設計出能滿足所有工況應用的物位儀表。只有充分了解儀表特點及現(xiàn)場應用條件,才能正確選擇所需要的產(chǎn)品,同時充分發(fā)揮儀表的測量性能。 在非接觸式物位測量儀表中,一般有超聲波物位計和雷達物位計兩種,而后者占有主要的地位. 這是因為雷達技術(shù)的應用近年來獲得了快速發(fā)展. 雷達物位計中高頻頭和天線是眼睛,回波處理是物位計的大腦。雷達物位計發(fā)出的電磁波遇到被測介質(zhì)被反射,反射回波的質(zhì)量反映了物位計應用效果?;夭ㄙ|(zhì)量定義為最小回波幅度(在最惡劣條件下回波幅度)與最大噪聲幅度(虛假回波、多徑反射波等的幅度)之比?;夭ㄙ|(zhì)量數(shù)值越大,物位計測量效果越好。
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